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      中国电子技术标准化研究院参加ISO/IEC JTC1/SC17工作组会议及2016年全会
      作者:秘书处 发布时间:2016-11-17
           
           
      ISO/IEC JTC1/SC17 “卡和身份识别分技术委员会”工作组会议及2016年全会于2016年10月3日~10月14日在德国柏林DIN举行。会议包括WG1、WG3、WG4、WG5、WG8、WG10、WG11工作组会议及2016年全会等内容。本次会议共有中国、英国、法国、德国、美国等16个国家以及ECMA International、MasterCard、UATP、Visa等组织的100多名代表参加。其中,中国代表团由来自中国电子技术标准化研究院、北京同方微电子有限公司、公安部一所、中国银联、上海密特印制有限公司等单位的8名代表组成,团长为中国电子技术标准化研究院的曹国顺。
      工作组会议期间讨论了接触式、非接触IC卡的物理特性标准、机动旅行证件标准、注册管理标准、机动车驾照及相关文件的标准、以及相关内容测试标准的意见回复和处理,并进行了技术交流。全会期间各工作组及联合工作组汇报了年度报告,并形成了15项全会决议。
      ISO/IEC JTC1/SC17认识到现在参会的人员有减少趋势,这是由于SC17的技术和标准体系基本成熟,新标准不多,主要为老标准的维护,另外,由于移动终端的发展,造成卡产品呈现萎缩趋势。基于以上原因,SC17为拓展业务范围,正在考虑修改分委会名称。本次会议,SC17/WG4已经提出将工作组名称修改为“安全系统和设备的接口和协议”,但与会代表觉得该名称范围太大,需进一步考虑。
      通过本次会议,中国代表团成员系统了解了ISO/IEC JTC1/SC17各项标准的进展情况,以及IC卡技术发展方向。同时,我们也和国际上其他国家参会成员就IC卡具体测试方法进行了沟通和交流,另外,我们承诺2017年3月在北京主办ISO/IEC JTC1/SC17/WG11的工作组会议。

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